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塑料介電常數及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng )

簡(jiǎn)要描述:LDJD-C型塑料介電常數及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng )
LDJD-C型塑料介電常數及介質(zhì)損耗測試儀能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。

  • 產(chǎn)品型號:LDJD-C
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-06-28
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:1028

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LDJD-C型塑料介電常數及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng )

該介電常數儀測試系統由測試裝置(夾具)、高頻Q表、數據采集和自動(dòng)測量控件以及電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會(huì )IEC60250的規定設計制作。

系統提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動(dòng)測量的&佳解決方案。

工作特性

1.     平板電容器:

       極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm   可選

       極片間距可調范圍:≥15mm

2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm

3. 夾具損耗正切值≤4×104 1MHz

4測微桿分辨率:0.001mm

 

工作原理

本測試裝置主要由一個(gè)數顯的微測量裝置和一組間距可調的平板電容器組成,平板電容器用于夾持被測材料樣品。而數顯的微測量裝置,用于顯示被測材料樣品的厚度。陪測設備介電常數及介質(zhì)損耗測試儀作為調諧指示儀器,通過(guò)被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)材料樣品時(shí)的Q值變化,可測得絕緣材料的損耗角正切值。同時(shí),由平板電容器的刻度讀值變化而換算可得到絕緣材料介電常數。

北京航天偉創(chuàng )設備科技有限公司生產(chǎn)經(jīng)營(yíng)多種型號介電常數儀,具體如下:

LDJD-C型

LDJD-B型

LDJD-A型

LDJD-C型塑料介電常數及介質(zhì)損耗測試儀——航天偉創(chuàng )

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