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當前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 電性能測試 > 介電常數測試儀 > LDJD-C絕緣介電常數測試儀

絕緣介電常數測試儀

簡(jiǎn)要描述:絕緣介電常數測試儀用于測試電氣絕緣材料的介電常數和介質(zhì)損耗(tanδ)。介電常數又稱(chēng)電容率或相對電容率,表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個(gè)重要數據,常用ε表示。它是指在同一電容器中用同一物質(zhì)為電介質(zhì)和真空時(shí)的電容的比值,表示電介質(zhì)在電場(chǎng)中貯存靜電能的相對能力。

  • 產(chǎn)品型號:LDJD-C
  • 廠(chǎng)商性質(zhì):生產(chǎn)廠(chǎng)家
  • 更新時(shí)間:2024-06-28
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:2142

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絕緣介電常數測試儀

 

絕緣介電常數儀

一、產(chǎn)品介紹

絕緣介電常數測試儀用于測試電氣絕緣材料的介電常數和介質(zhì)損耗(tanδ)。介電常數又稱(chēng)電容率或相對電容率,表征電介質(zhì)或絕緣材料電性能的一個(gè)重要數據,常用ε表示。它是指在同一電容器中用同一物質(zhì)為電介質(zhì)和真空時(shí)的電容的比值,表示電介質(zhì)在電場(chǎng)中貯存靜電能的相對能力。

絕緣介電常數儀由S916測試裝置(夾具)、QBG-3E/QBG-3F/AS2853A型高頻Q表、數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件(裝入QBG-3E/QBG-3F的軟件模塊)、及LKI-1型電感器組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會(huì )IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動(dòng)測量的最佳解決方案。本儀器中測試裝置是由平板電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品,介電常數及介質(zhì)損耗測試系統的主機則是一臺阻抗測量設備(高頻Q表)。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。使用QBG-3E/3F或AS2853A數字Q表具有自動(dòng)計算介電常數(ε)和介質(zhì)損耗(tanδ)。

二、適用標準

1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)存內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法
3 ASTM-D150-介電常數測試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質(zhì)損耗和介電常數的測試方法

三、主要測試材料

介電常數及介質(zhì)蒜損耗測試系統主要測試材料:
1 絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學(xué)膠,環(huán)氧樹(shù)脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等

LDJD-B 型 介電常數及介質(zhì)損耗測試儀

 

 

 

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