LDJD-C高頻介電常數測試設備

LDJD-C高頻介電常數測試設備可用于固體絕緣材料在高頻（100KHz-160MHz）下，高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介電常數和介質(zhì)損耗因數，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等電性能的測試?？蛇x配自動(dòng)測試模塊進(jìn)行介電常數的自動(dòng)測量。

適用標準

GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法》（等效IEC 60250：1969）

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》 

 手動(dòng)介電常數測試方法與步驟

1.       測試前主機建議預熱30分鐘

2.       把S916測試夾具裝置上的插頭插入到主機測試回路的“電容”兩個(gè)端子上。

3.       在主機電感端子上插上和測試頻率相適應的高Q值電感線(xiàn)圈（本公司 主機配套使用的LKI-1電感組能滿(mǎn)足要求），如：1MHz 時(shí)電感取100uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。

4.       被測樣品要求為圓形，直徑50.4--52mm/38.4--40mm，這是減小因樣品邊緣泄漏和邊緣電場(chǎng)引起的誤差的有效辦法。樣品厚度可在1--5mm之間(當材料介電大于6的情況下建議材料≥2mm)，樣品太薄或太厚就會(huì )使測試精度下降，樣品要盡可能平整。（小于0.5mm的樣品測試，請參考附錄三，疊加測試法）

5.       調節S916測試夾具的測微桿，使S916測試夾具的平板電容極片相接為止，按ZERO 清零按鍵，初始值設置為0。

1. 再松開(kāi)兩片極片，把被測樣品夾入平板電容上下極片之間，調節S916測試夾具的測微桿，直到平板電容極片夾住樣品止（注意調節時(shí)要用S916測試夾具的測微桿，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D₂。改變主機上的主調電容容量（旋轉主調電容旋鈕改變主調電容電容量），使主機處于諧振點(diǎn)（Q值大值）上。
2. 取出S916測試夾具中的樣品，這時(shí)主機又失去諧振（Q值變?。?，此時(shí)調節S916測試夾具的測微桿，使主機再回到諧振點(diǎn)（Q值大值）上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D_4.
3. 計算被測樣品的介電常數:

     Σ＝D₂ / D₄

二 自動(dòng)介電常數測試方法與步驟(需選配自動(dòng)測試軟件模塊)

1.     自動(dòng)介電常數測試時(shí)，基本步驟同手動(dòng)一樣，只是主機支持通過(guò)數據模塊記錄S916測試夾具的數據，并自動(dòng)計算出介電常數。

2.     使用數據轉換連接線(xiàn),連接S916數據傳輸接口和介電常數測試主機背板上的四芯插座。

3.     按主機鍵盤(pán)區“2”按鍵di一次

4.     當S916測試夾具夾緊待測材料，調節主機的主調電容使主機諧振，此時(shí)第二次按主機鍵盤(pán)區“2”按鍵。此時(shí)主機將保留終的D2數據

5.     拿出被測材料，再次調節S916測試夾具的上下極片，直到主機再次諧振，后再一次按下主機鍵盤(pán)區“2”按鍵，主機保存D4數據，并計算出介電常數的數值。顯示下圖界面，此時(shí)主機已經(jīng)把計算出的介電常數e顯示在顯示屏上。

6.     按主機鍵盤(pán)區“Q”按鍵退出測試，結束測試。

試驗步驟

1. 試樣的制備

試樣應從固體材料上截取，為了滿(mǎn)足要求，應按相關(guān)的標準方法的要求來(lái)制備。

應精確地測量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以?xún)?，測量點(diǎn)應均勻地分布在試樣表面。必要時(shí)，應測其有效面積。

2.條件處理

條件處理應按相關(guān)產(chǎn)品規范規定進(jìn)行。

3.測量

電氣測量按說(shuō)明書(shū)進(jìn)行測量。

在1MHz或更高頻率下，必須減小接線(xiàn)的電感對測量結果的影響。此時(shí)，可采用同軸接線(xiàn)系統，當用變電抗法測量時(shí)，應提供一個(gè)固定微調電容器。