LDJC-50kV耐電壓擊穿電氣強度測試儀

一、   產(chǎn)品簡(jiǎn)介

LDJC-50kV耐電壓擊穿電氣強度測試儀主要適用于固體絕緣材料如：塑料、薄膜、樹(shù)脂、云母、陶瓷、玻璃、絕緣漆等介質(zhì)在工頻電壓或直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷簳r(shí)間的測試。

二、   適用標準

GB/T 1408.1-2016《絕緣材料 電氣強度試驗方法 第1部分：工頻下試驗》

GB/T 1408.2-2006《絕緣材料 電氣強度試驗方法 第2部分:對應用直流電壓試驗的附加要求》

JJG 795-2016 《耐電壓測試儀檢定規程》

GB/T 1695-2005《硫化橡膠 工頻擊穿電壓強度和耐電壓的測定方法》

GB/T 3333-1999《電纜紙工頻擊穿電壓試驗方法》

GB/T 12913-2008《電容器紙》

ASTM D149《固體電絕緣材料工業(yè)電源頻率下的介電擊穿電壓和介電強度的試驗方法》

三、   適用材料及定義

主要適用于固體絕緣材料如：電線(xiàn)套管、樹(shù)脂和膠、浸漬纖維制品、云母及其制品、塑料薄膜、陶瓷、玻璃、絕緣漆、硫化橡膠、電纜紙、絕緣漆漆膜、硬質(zhì)橡膠、紙板等絕緣介質(zhì)在空氣或液體介質(zhì)中，測量工頻（48~62Hz）或對應直流電壓下?lián)舸姸群湍碗妷簳r(shí)間。

適用于連續均勻升壓或逐級升壓的方式，對試樣施加交流或直流電壓直至擊穿，測量擊穿電壓值，計算試樣的擊穿強度，用迅速升壓的方法，將電壓升到規定值，保持一定的時(shí)間試樣不擊穿，此時(shí)規定值為試樣的耐電壓值。

四、   主要技術(shù)參數

1、設備輸入電壓：220V (普通試驗室電源均可兼容)；

2、試驗電壓方式：交流0-50 kV；直流0-50 kV

3、電器容量：5kVA

4、電流顯示范圍：0-200mA

5、試驗方法：0-50kV；全量程可調(采用高精度電壓采樣器件)；

6、擊穿及耐壓試驗升壓速率：0.1kV/S-3kV/s(此項滿(mǎn)足新版標準里面極快速升壓試驗要求)；

7、試驗方式：直/直流試驗：1、勻速升壓  2、階梯升壓  3、耐壓試驗

8、過(guò)電流保護裝置應有足夠靈敏度以保證試樣擊穿時(shí)在0.1s內切斷電源。

9、本儀器采用無(wú)觸點(diǎn)原件勻速調壓方式

10、支持短時(shí)間內短路試驗要求。

11、電壓測量誤差：0.5%。

12、試驗電壓連續可調：0-50kV

13、耐壓時(shí)間設定：0-99小時(shí)(可通過(guò)軟件連續設定)。

14、主機尺寸：約800*700*1300mm長(cháng)寬高

15、主機重量：約150kg

16、九級安全防護措施：

(1) 超壓保護

(2)試驗過(guò)流保護

(3)試驗短路保護

(4)安全門(mén)開(kāi)啟保護

(5)軟件誤操作保護

(6)零電壓復位保護

(7)試驗結束放電保護

(8)獨立保護接地

(9)試驗完成后電磁放電

五、  擊穿判定

     擊穿同時(shí)伴有回路電流上升和試驗電壓下降兩種現象。電流的增加可使斷路器跳開(kāi)或熔絲燒斷。但是有時(shí)也可由于閃絡(luò )、試樣充電電流、漏電或局部放電電流、設備磁化電流或誤動(dòng)作而引起斷路器跳開(kāi)。因此，斷路器應與試驗設備及被試驗材料的特性相匹配，否則，斷路器可能在試樣未擊穿時(shí)動(dòng)作或當試樣擊穿時(shí)斷路器不動(dòng)作，這樣便不能正確地判斷出是否擊穿。及時(shí)在的條件下，周?chē)嘿|(zhì)先擊穿的情況也會(huì )發(fā)生，因此在試驗過(guò)程中要注意觀(guān)察和檢測這種現象。若發(fā)現煤質(zhì)擊穿，應在報告中寫(xiě)上。對漏電檢查回路敏感性特別重要的那些材料，在這種材料的標準中也應作同樣的說(shuō)明。

     對材料測試來(lái)說(shuō)，規定故障檢驗電路的靈敏度是特別重要的。

    在會(huì )治愈材料表面方向試驗時(shí)，通常容易判斷，無(wú)論通道是否有碳粒，當擊穿發(fā)生后用肉眼容易看到真正擊穿的通道。

    如果在平行于材料表面方向上試驗時(shí)，要求判斷是由試樣破壞引起的擊穿現象還是由閃絡(luò )引起的失效（見(jiàn)5.3）。這可以通過(guò)檢查試樣或使用再施加一次電壓的辦法來(lái)進(jìn)行鑒別，再次施加的電壓值應小于*次時(shí)間的擊穿電壓。試驗表明，再次施加的電壓值為*次擊穿電壓值的50%比較合適，然后用與*次試驗相同的方法升壓直至破壞。

六、試驗意義

通過(guò)本測試儀得到的電氣強度試驗結果，能用來(lái)檢測由于工藝變更、老化條件或其他制造或環(huán)境情況而引起的性能相對于正常值的變化或偏離，一般不推薦用于直接確定在實(shí)際應用中的絕緣材料的性能狀態(tài)。