灼熱絲試驗的實(shí)施主要依賴(lài)于測試裝置來(lái)進(jìn)行，試驗操作相對比較簡(jiǎn)單，因此一些試驗人員認為該檢測項目出現結果偏離的原因主要集中于樣品預的處理、樣品的裝夾位置和試驗時(shí)的環(huán)境。其實(shí)這種認為并不全面，在灼熱絲試驗中除上述關(guān)注要點(diǎn)之外還有多個(gè)環(huán)節會(huì )對測試結果是否偏離起著(zhù)至關(guān)重要的影響，分析如下：

　　當被試樣品觸及灼熱絲時(shí)，灼熱絲溫度會(huì )有一個(gè)明顯的先降后升的過(guò)程。為了解決這一問(wèn)題，有些國外灼熱絲試驗裝置制造商在早期制造的試驗裝置中裝有了用于保持溫度穩定的反饋裝置，以使試驗設備在進(jìn)行灼熱絲試驗的整個(gè)過(guò)程中灼熱絲溫度是恒定的。

　　隨著(zhù)標準的不斷完善，這種做法在標準中予以了否定。在現行的GB/T5169.10-2⑴"VIECGOSQO-Z-IO^OOO121標準5.1中明確規定“在試驗裝置加熱電路中不應有用于保持溫度的反饋裝置或反饋回路”。

　　然而有些實(shí)驗室對早期購置的帶溫度反饋裝置的灼熱絲試驗裝置未能按標準要求進(jìn)行改進(jìn)，致使用于保持溫度的反饋裝置仍被繼續使用。根據統計，雖然在先降后升過(guò)程中下降值和回升值的多少會(huì )隨預定試驗溫度的不同而有所不同，但在這一過(guò)程中下降溫度一般會(huì )比預定溫度下降100°c左右，回升后溫度會(huì )超過(guò)預定溫度20°C左右。

　　因此如果使用帶有溫度恒定裝置的灼熱絲試驗設備進(jìn)行測試無(wú)疑是加嚴了測試條件。有兩個(gè)方面的規定。一個(gè)是灼熱絲頂部的校驗，主要內容是需對灼熱絲頂部尺寸進(jìn)行驗證；另一個(gè)是溫度測量系統的校驗，主要內容是提供灼熱絲試驗裝置中溫度測量系統的校驗方法即“銀箔法”。

　　然而，目前有些實(shí)驗室在理解并執行該段標準要求時(shí)存在斷章取義的現象，主要表現為有些實(shí)驗室對灼熱絲試驗裝置在計量方面不進(jìn)行外檢，而是采用自校的方式，并且自校的方法僅使用“銀箔法”進(jìn)行。對于這種做法，筆者認為自校是可以的，但是僅用“銀箔法”進(jìn)行自校是不妥的。

　　因為“銀箔法”只對試驗裝置溫度測量系統進(jìn)行了校驗，而忽略了灼熱絲頂部尺寸尤其是熱點(diǎn)偶放置位置對灼熱絲測試結果影響的重要性。在GB/T5169.10-2006111/IEC60590-2-10:2000121標準中明確規定灼熱絲頭部表面與熱電偶的距離應為0.6±0.2mm。